| Model | Format czujnika | Ogniskowa (mm) | Pole widzenia (poziomo*pionowo*głęboko) | Czas życia (mm) | Filtr podczerwieni | Otwór | Uchwyt | Cena jednostkowa | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH699A | 2/3" | 25 | 19,2°*14,5°*23,9° | / | / | F2.8-22 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH698A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,3°*37,9° | / | / | F2.8-22 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH697A | 2/3" | 12 | 38,9°*29,6°*47,9° | / | / | F2.8-22 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,04º*8,38° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,4º*8,4º*12,3° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1º*9,9º*16,3° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º*24,6° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º*38,5° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º*48,5° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6º*44º*67,6° | / | / | F2.8-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6º*44,9º*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | 45 dolarówPoproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º*29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º*22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º*15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º*9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Poproś o wycenę | |
| WIĘCEJ+MNIEJ- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Poproś o wycenę | |
2/3″soczewka do widzenia maszynowegoes to seria obiektywów o wysokiej rozdzielczości z mocowaniem typu C. Są one przeznaczone do matryc o przekątnej do 2/3 cala i zapewniają szeroki kąt widzenia z niskimi zniekształceniami.
Te soczewki wizyjne mogą być używane do inspekcji półprzewodników. W połączeniu z innymi komponentami systemów wizyjnych, wykorzystują one światło o głębokiej długości fali ultrafioletowej do inspekcji płytek półprzewodnikowych i masek, aby osiągnąć wymaganą wysoką prędkość i rozdzielczość.
Metrologia i kontrola odgrywają istotną rolę w zarządzaniu procesem produkcji półprzewodników. Cały proces produkcji płytek półprzewodnikowych składa się z 400–600 etapów, które trwają od jednego do dwóch miesięcy. Jeśli jakiekolwiek defekty wystąpią na wczesnym etapie procesu, dalsze przetwarzanie staje się bezcelowe.
Wykrywanie defektów i określanie ich lokalizacji (koordynacja pozycji) to główna rola sprzętu inspekcyjnego. Soczewki systemów wizyjnych wykrywają nieprawidłowe lub wadliwe części, zanim zostaną one wbudowane w większe zespoły. Im szybciej wadliwe elementy zostaną wykryte i usunięte z procesu produkcyjnego, tym mniej odpadów, co bezpośrednio przekłada się na wzrost wydajności. W porównaniu z ręcznymi metodami monitorowania i inspekcji, zautomatyzowane systemy wizyjne z wysokiej jakości soczewkami optycznymi są szybsze, pracują niestrudzenie i generują bardziej spójne wyniki.