| Modèle | Format du capteur | Longueur focale (mm) | Champ de vision (H*V*D) | TTL (mm) | Filtre IR | Ouverture | Monter | Prix unitaire | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| PLUS+MOINS- | CH699A | 2/3" | 25 | 19,2°*14,5°*23,9° | / | / | F2.8-22 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH698A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,3°*37,9° | / | / | F2.8-22 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH697A | 2/3" | 12 | 38,9°*29,6°*47,9° | / | / | F2.8-22 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,04º*8,38° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,4°*8,4°*12,3° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1°*9,9°*16,3° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º*24,6° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,1°*38,5° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º*48,5° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6°*44°*67,6° | / | / | F2.8-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6º*44,9º*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | 45 $Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º*29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º*22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º*15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º*9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Demander un devis | |
| PLUS+MOINS- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Demander un devis | |
2/3″lentille de vision industrielleIl s'agit d'une série d'objectifs haute résolution à monture C. Ils sont conçus pour les capteurs jusqu'à 2/3 de pouce et offrent un grand angle de champ avec une faible distorsion.
Ces lentilles de vision industrielle permettent d'inspecter les semi-conducteurs. Associées à d'autres composants du système, elles utilisent la lumière ultraviolette profonde pour examiner les plaquettes et les masques, garantissant ainsi la vitesse et la résolution élevées requises.
La métrologie et le contrôle sont essentiels à la gestion du processus de fabrication des semi-conducteurs. La fabrication des plaquettes de semi-conducteurs comprend entre 400 et 600 étapes, réalisées sur une période d'un à deux mois. Tout défaut détecté dès les premières étapes compromet l'ensemble du processus ultérieur.
La détection des défauts et la localisation précise de ces défauts (coordination de position) constituent la fonction première des équipements d'inspection. Les systèmes de vision industrielle repèrent les pièces incorrectes ou défectueuses avant leur intégration dans des ensembles plus importants. Plus les pièces défectueuses sont détectées et éliminées tôt du processus de production, moins il y a de déchets, ce qui améliore directement le rendement. Comparés aux méthodes manuelles de contrôle et d'inspection, les systèmes de vision industrielle automatisés, dotés d'objectifs optiques de haute qualité, sont plus rapides, fonctionnent en continu et offrent des résultats plus constants.