Model | Format senzor | Lungimea focală (mm) | FOV (H*V*D) | TTL(mm) | Filtru IR | Deschidere | Munte | Preț unitar | ||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,03º | / | / | F2.8-22 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,5º*8,5º | / | / | F2.8-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1º*9,9º | / | / | F2.8-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º | / | / | F2.8-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º | / | / | F2.8-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º | / | / | F2.8-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6º*44,1º | / | / | F2.8-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6°*44,9°*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | 45 USDSolicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º*29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º*22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º*15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º*9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Solicitați cotație | |
MAI MULT+MAI PUȚIN- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Solicitați cotație | |
2/3 inchilentilă de viziune artificialăeste o serie de obiective de înaltă rezoluție cu montură C. Sunt proiectate pentru senzori de până la 2/3 inchi și oferă un câmp de vizualizare unghiular cu distorsiuni reduse.
Acestelentilă de viziune artificialăe pot fi folosite pentru a inspecta semiconductori. În combinație cu alte componente ale sistemului de viziune artificială, acestea folosesc lumină ultravioletă profundă cu lungimea de undă pentru a inspecta napolitanele și măștile pentru a obține viteza și rezoluția mare necesare.
Metrologia și inspecția sunt importante pentru gestionarea procesului de fabricație a semiconductorilor. Există 400 până la 600 de etape în procesul general de fabricație a plachetelor semiconductoare, care sunt întreprinse în decurs de una până la două luni. Dacă apar defecte la începutul procesului, toată prelucrarea ulterioară nu are sens.
Detectarea defectelor și precizarea locațiilor acestora (coordonarea poziției) reprezintă rolul principal al echipamentelor de inspecție. Lentilele de vedere artificială prinde părți incorecte sau proaste înainte de a fi încorporate în ansambluri mai mari. Cu cât articolele defecte pot fi detectate și îndepărtate mai repede dintr-un proces de producție, cu atât mai puține deșeuri în proces, ceea ce îmbunătățește direct randamentul. În comparație cu metodele manuale de monitorizare și inspecție, sistemele automate de viziune artificială cu o lentilă optică de înaltă calitate sunt mai rapide, funcționează neobosit și generează rezultate mai consistente.