| Model | Format Sensor | Panjang Fokus (mm) | FOV (H*V*D) | TTL(mm) | Penapis IR | Apertur | Gunung | Harga Seunit | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LEBIH+KURANG- | CH699A | 2/3" | 25 | 19.2°*14.5°*23.9° | / | / | F2.8-22 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH698A | 2/3" | 16 | 30.8°*23.3°*37.9° | / | / | F2.8-22 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH697A | 2/3" | 12 | 38.9°*29.6°*47.9° | / | / | F2.8-22 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH684A | 2/3" | 75 | 6.71º*5.04º*8.38° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH683A | 2/3" | 50 | 10.4º*8.4º*12.3° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH682A | 2/3" | 35 | 13.1º*9.9º*16.3° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH681A | 2/3" | 25 | 20.1º*15.3º*24.6° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH680A | 2/3" | 16 | 30.8º*23.1º*38.5° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH679A | 2/3" | 12 | 39.8º*30.4º*48.5° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH678A | 2/3" | 8 | 57.6º*44º*67.6° | / | / | F2.8-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH641B | 2/3" | 8 | 57.6º*44.9º*69.0° | / | / | F1.6-16 | C | $45Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH642B | 2/3" | 12 | 38.9º*29.6º | / | / | F1.4-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH643B | 2/3" | 16 | 29.9º*22.7º | / | / | F1.6-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH644B | 2/3" | 25 | 20.34º*15.78º | / | / | F1.4-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH645B | 2/3" | 35 | 13.14º*9.8º | / | / | F1.7-16 | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH646B | 2/3" | 50 | 10.1º*7.5º | / | / | / | C | Minta Sebut Harga | |
| LEBIH+KURANG- | CH677A | 2/3" | 6 | 73.3°*57.5° | / | / | F1.4-16 | C | Minta Sebut Harga | |
2/3″kanta penglihatan mesines ialah satu siri kanta resolusi tinggi dengan pelekap C. Ia direka bentuk untuk sensor sehingga 2/3 inci dan menyediakan medan pandangan sudut dengan herotan yang rendah.
Inikanta penglihatan mesines boleh digunakan untuk memeriksa semikonduktor. Digabungkan dengan komponen sistem penglihatan mesin yang lain, ia menggunakan cahaya panjang gelombang ultraungu yang dalam untuk memeriksa wafer dan topeng bagi mencapai kelajuan dan resolusi tinggi yang diperlukan.
Metrologi dan pemeriksaan adalah penting untuk pengurusan proses pembuatan semikonduktor. Terdapat 400 hingga 600 langkah dalam keseluruhan proses pembuatan wafer semikonduktor, yang dijalankan dalam tempoh satu hingga dua bulan. Jika sebarang kecacatan berlaku pada awal proses, semua pemprosesan berikutnya tidak masuk akal.
Mengesan kecacatan dan menentukan lokasinya (koordinasi kedudukan) adalah peranan utama peralatan pemeriksaan. Kanta penglihatan mesin menangkap bahagian yang salah atau rosak sebelum ia dibina ke dalam pemasangan yang lebih besar. Lebih cepat item yang rosak dapat dikesan dan dikeluarkan daripada proses pengeluaran, lebih sedikit pembaziran dalam proses tersebut, yang secara langsung meningkatkan hasil. Berbanding dengan kaedah pemantauan dan pemeriksaan manual, sistem penglihatan mesin automatik dengan kanta optik berkualiti tinggi adalah lebih pantas, berfungsi tanpa mengenal penat lelah dan menghasilkan hasil yang lebih konsisten.