Modell | Sensor Format | Brennwäit (mm) | FOV (H*V*D) | TTL (mm) | IR Filter | Apertur | Mount | Eenheetspräis | ||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
MÉI +MANNER- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,03º | / | / | F2.8-22 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,5º*8,5º | / | / | F2.8-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH682A | 2/3" | 35 | 13.1º*9.9º | / | / | F2.8-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH681A | 2/3" | 25 | 20.1º*15.3º | / | / | F2.8-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º | / | / | F2.8-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º | / | / | F2.8-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH678A | 2/3" | 8 | 57.6º*44.1º | / | / | F2.8-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH641B | 2/3" | 8 | 57.6º*44.9º*69.0º | / | / | F1.6-16 | C | $45Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH642B | 2/3" | 12 | 38.9º*29.6º | / | / | F1.4-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH643B | 2/3" | 16 | 29.9º*22.7º | / | / | F1.6-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH644B | 2/3" | 25 | 20.34º*15.78º | / | / | F1.4-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH645B | 2/3" | 35 | 13.14º*9.8º | / | / | F1.7-16 | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH646B | 2/3" | 50 | 10.1º*7.5º | / | / | / | C | Ufro Zitat | |
MÉI +MANNER- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Ufro Zitat | |
2/3"Maschinn Visioun Lenses sinn eng Serie vun héich Opléisung Lens mat C Mount. Si si fir bis zu 2/3-Zoll Sensor entworf a bidden Wénkel Vue Feld mat gerénger Verzerrung.
DësMaschinn Visioun Lenses kënne benotzt ginn fir Halbleiter z'inspektéieren. A Kombinatioun mat anere Maschinn Visioun System Komponente benotzen se déif ultraviolet Wellelängt Liicht fir Wafers a Masken ze kontrolléieren fir déi néideg Héichgeschwindegkeet an Opléisung z'erreechen.
Metrologie an Inspektioun si wichteg fir d'Gestioun vum Semiconductor Fabrikatiounsprozess. Et gi 400 bis 600 Schrëtt am Gesamtproduktiounsprozess vun Hallefleitwaferen, déi am Laf vun engem bis zwee Méint duerchgefouert ginn. Wann Mängel fréi am Prozess optrieden, mécht all déi spéider Veraarbechtung kee Sënn.
Mängel z'entdecken an hir Plazen ze spezifizéieren (Positiounskoordinatioun) sinn d'Haaptroll vun der Inspektiounsausrüstung. Maschinn Visioun Lënsen fangen falsch oder schlecht Deeler ier se a gréisser Versammlungen agebaut ginn. Wat méi fréi datt defekt Artikelen erkannt an aus engem Produktiounsprozess erausgeholl kënne ginn, wat manner Offall am Prozess ass, wat d'Ausbezuelung direkt verbessert. Am Verglach mat manuelle Methoden fir Iwwerwaachung an Inspektioun, automatiséiert Maschinn Visiounssystemer mat enger héichqualitativer optescher Lens si méi séier, schaffen onermiddlech a generéieren méi konsequent Resultater.