| Modello | Formato del sensore | Lunghezza focale (mm) | Campo visivo (H*V*D) | TTL (mm) | Filtro IR | Apertura | Montare | Prezzo unitario | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ALTRO+MENO- | CH699A | 2/3" | 25 | 19,2°*14,5°*23,9° | / | / | F2.8-22 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH698A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,3°*37,9° | / | / | F2.8-22 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH697A | 2/3" | 12 | 38,9°*29,6°*47,9° | / | / | F2.8-22 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,04º*8,38° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,4º*8,4º*12,3° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1º*9,9º*16,3° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º*24,6° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º*38,5° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º*48,5° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6º*44º*67,6° | / | / | F2.8-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6º*44,9º*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | $45Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º*29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º*22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º*15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º*9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Richiedi un preventivo | |
| ALTRO+MENO- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Richiedi un preventivo | |
2/3″lente per visione artificialeSono una serie di obiettivi ad alta risoluzione con attacco C. Sono progettati per sensori fino a 2/3 di pollice e offrono un campo visivo angolare con bassa distorsione.
Queste lenti per la visione artificiale possono essere utilizzate per ispezionare i semiconduttori. In combinazione con altri componenti del sistema di visione artificiale, utilizzano la luce ultravioletta profonda per ispezionare wafer e maschere, ottenendo l'elevata velocità e risoluzione necessarie.
La metrologia e l'ispezione sono importanti per la gestione del processo di produzione dei semiconduttori. Il processo di produzione complessivo dei wafer di semiconduttori comprende dalle 400 alle 600 fasi, che vengono eseguite nell'arco di uno o due mesi. Se si verificano difetti nelle fasi iniziali del processo, tutte le lavorazioni successive risultano inutili.
Rilevare i difetti e specificarne la posizione (coordinamento della posizione) è il ruolo principale delle apparecchiature di ispezione. Le lenti per la visione artificiale individuano componenti errati o difettosi prima che vengano integrati in assemblaggi più grandi. Prima i pezzi difettosi vengono rilevati e rimossi da un processo di produzione, minori saranno gli sprechi, con un conseguente miglioramento diretto della resa. Rispetto ai metodi manuali di monitoraggio e ispezione, i sistemi di visione artificiale automatizzati dotati di lenti ottiche di alta qualità sono più rapidi, lavorano instancabilmente e generano risultati più coerenti.