| Model | Sensorformat | Brændvidde (mm) | FOV (H*V*D) | TTL(mm) | IR-filter | Blænde | Mount | Enhedspris | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| MERE+MINDRE- | CH699A | 2/3" | 25 | 19,2°*14,5°*23,9° | / | / | F2.8-22 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH698A | 2/3" | 16 | 30,8°*23,3°*37,9° | / | / | F2.8-22 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH697A | 2/3" | 12 | 38,9°*29,6°*47,9° | / | / | F2.8-22 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH684A | 2/3" | 75 | 6,71º*5,04º*8,38° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH683A | 2/3" | 50 | 10,4º*8,4º*12,3° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH682A | 2/3" | 35 | 13,1º*9,9º*16,3° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH681A | 2/3" | 25 | 20,1º*15,3º*24,6° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH680A | 2/3" | 16 | 30,8º*23,1º*38,5° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH679A | 2/3" | 12 | 39,8º*30,4º*48,5° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH678A | 2/3" | 8 | 57,6º*44º*67,6° | / | / | F2.8-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH641B | 2/3" | 8 | 57,6º*44,9º*69,0° | / | / | F1.6-16 | C | 45 dollarsAnmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH642B | 2/3" | 12 | 38,9º*29,6º | / | / | F1.4-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH643B | 2/3" | 16 | 29,9º*22,7º | / | / | F1.6-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH644B | 2/3" | 25 | 20,34º * 15,78º | / | / | F1.4-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH645B | 2/3" | 35 | 13,14º*9,8º | / | / | F1.7-16 | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH646B | 2/3" | 50 | 10,1º*7,5º | / | / | / | C | Anmod om tilbud | |
| MERE+MINDRE- | CH677A | 2/3" | 6 | 73,3°*57,5° | / | / | F1.4-16 | C | Anmod om tilbud | |
2/3″maskinsynslinsees er en serie af højopløsningsobjektiver med C-fatning. De er designet til op til 2/3-tommer sensorer og giver et synsfelt med lav forvrængning.
Dissemaskinsynslinsekan bruges til at inspicere halvledere. I kombination med andre komponenter i maskinsynssystemer bruger de dyb ultraviolet bølgelængde til at inspicere wafere og masker for at opnå den nødvendige høje hastighed og opløsning.
Måling og inspektion er vigtige for styringen af halvlederproduktionsprocessen. Der er 400 til 600 trin i den samlede fremstillingsproces af halvlederwafere, som udføres i løbet af en til to måneder. Hvis der opstår defekter tidligt i processen, giver al den efterfølgende bearbejdning ikke mening.
Inspektionsudstyrs primære rolle er at detektere defekter og specificere deres placering (positionskoordinering). Maskinvisionslinser fanger forkerte eller defekte dele, før de bygges ind i større samlinger. Jo hurtigere defekte elementer kan detekteres og fjernes fra en produktionsproces, desto mindre spild er der i processen, hvilket direkte forbedrer udbyttet. Sammenlignet med manuelle metoder til overvågning og inspektion er automatiserede maskinvisionssystemer med en optisk linse af høj kvalitet hurtigere, arbejder utrætteligt og genererer mere ensartede resultater.