| Modelo | Pormat sa Sensor | Gitas-on sa Focal (mm) | FOV (H*V*D) | TTL(mm) | IR Filter | Apertura | I-mount | Presyo sa Yunit | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DUGANG+MENOS- | CH699A | 2/3" | 25 | 19.2°*14.5°*23.9° | / | / | F2.8-22 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH698A | 2/3" | 16 | 30.8°*23.3°*37.9° | / | / | F2.8-22 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH697A | 2/3" | 12 | 38.9°*29.6°*47.9° | / | / | F2.8-22 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH684A | 2/3" | 75 | 6.71º*5.04º*8.38° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH683A | 2/3" | 50 | 10.4º*8.4º*12.3° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH682A | 2/3" | 35 | 13.1º*9.9º*16.3° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH681A | 2/3" | 25 | 20.1º*15.3º*24.6° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH680A | 2/3" | 16 | 30.8º*23.1º*38.5° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH679A | 2/3" | 12 | 39.8º*30.4º*48.5° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH678A | 2/3" | 8 | 57.6º*44º*67.6° | / | / | F2.8-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH641B | 2/3" | 8 | 57.6º*44.9º*69.0° | / | / | F1.6-16 | C | $45Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH642B | 2/3" | 12 | 38.9º*29.6º | / | / | F1.4-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH643B | 2/3" | 16 | 29.9º*22.7º | / | / | F1.6-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH644B | 2/3" | 25 | 20.34º*15.78º | / | / | F1.4-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH645B | 2/3" | 35 | 13.14º*9.8º | / | / | F1.7-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH646B | 2/3" | 50 | 10.1º*7.5º | / | / | / | C | Paghangyo og Kwota | |
| DUGANG+MENOS- | CH677A | 2/3" | 6 | 73.3°*57.5° | / | / | F1.4-16 | C | Paghangyo og Kwota | |
2/3″lente sa panan-aw sa makinaAng mga es usa ka serye sa mga high resolution lens nga adunay C mount. Gidisenyo kini para sa hangtod sa 2/3-pulgada nga sensor ug naghatag og angle view field nga adunay ubos nga distortion.
Kinilente sa panan-aw sa makinamagamit kini sa pag-inspeksyon sa mga semiconductor. Inubanan sa ubang mga sangkap sa sistema sa machine vision, mogamit kini og lawom nga ultraviolet wavelength light aron masusi ang mga wafer ug mask aron makab-ot ang gikinahanglan nga taas nga tulin ug resolusyon.
Ang metrolohiya ug inspeksyon importante alang sa pagdumala sa proseso sa paggama sa semiconductor. Adunay 400 ngadto sa 600 ka mga lakang sa kinatibuk-ang proseso sa paggama sa mga semiconductor wafer, nga gihimo sulod sa usa ngadto sa duha ka bulan. Kung adunay mga depekto nga mahitabo sa sayo pa sa proseso, ang tanan nga sunod nga pagproseso dili makatarunganon.
Ang pag-ila sa mga depekto ug pagtino sa ilang mga lokasyon (koordinasyon sa posisyon) mao ang pangunang papel sa mga kagamitan sa inspeksyon. Ang mga lente sa panan-aw sa makina makadakop sa dili husto o dili maayo nga mga bahin sa dili pa kini i-instalar sa mas dagkong mga asembliya. Kon mas sayo nga mamatikdan ug matangtang ang mga depektoso nga butang gikan sa proseso sa produksiyon, mas gamay ang basura sa proseso, nga direktang makapauswag sa ani. Kon itandi sa manwal nga mga pamaagi sa pagmonitor ug inspeksyon, ang mga automated machine vision system nga adunay taas nga kalidad nga optical lens mas paspas, walay kakapoy nga molihok, ug makamugna og mas makanunayon nga mga resulta.