| Model | Sensorformaat | Brandpuntsafstand (mm) | FOV (H*V*D) | TTL(mm) | IR-filter | Diafragma | Berg | Eenheidsprys | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| MEER+MINDER- | CH699A | 2/3" | 25 | 19.2°*14.5°*23.9° | / | / | F2.8-22 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH698A | 2/3" | 16 | 30.8°*23.3°*37.9° | / | / | F2.8-22 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH697A | 2/3" | 12 | 38.9°*29.6°*47.9° | / | / | F2.8-22 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH684A | 2/3" | 75 | 6.71º*5.04º*8.38° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH683A | 2/3" | 50 | 10.4º*8.4º*12.3° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH682A | 2/3" | 35 | 13.1º*9.9º*16.3° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH681A | 2/3" | 25 | 20.1º*15.3º*24.6° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH680A | 2/3" | 16 | 30.8º*23.1º*38.5° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH679A | 2/3" | 12 | 39.8º*30.4º*48.5° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH678A | 2/3" | 8 | 57.6º*44º*67.6° | / | / | F2.8-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH641B | 2/3" | 8 | 57.6º*44.9º*69.0° | / | / | F1.6-16 | C | $45Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH642B | 2/3" | 12 | 38.9º*29.6º | / | / | F1.4-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH643B | 2/3" | 16 | 29.9º*22.7º | / | / | F1.6-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH644B | 2/3" | 25 | 20.34º*15.78º | / | / | F1.4-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH645B | 2/3" | 35 | 13.14º*9.8º | / | / | F1.7-16 | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH646B | 2/3" | 50 | 10.1º*7.5º | / | / | / | C | Versoek kwotasie | |
| MEER+MINDER- | CH677A | 2/3" | 6 | 73.3°*57.5° | / | / | F1.4-16 | C | Versoek kwotasie | |
2/3″masjienvisielenses is 'n reeks hoëresolusie-lense met C-montering. Hulle is ontwerp vir 'n sensor van tot 2/3 duim en bied 'n hoekige kykveld met lae vervorming.
Hierdiemasjienvisielenses kan gebruik word om halfgeleiers te inspekteer. In kombinasie met ander masjienvisiestelselkomponente, gebruik hulle diep ultravioletgolflengtelig om wafers en maskers te inspekteer om die nodige hoë spoed en resolusie te bereik.
Metrologie en inspeksie is belangrik vir die bestuur van die halfgeleiervervaardigingsproses. Daar is 400 tot 600 stappe in die algehele vervaardigingsproses van halfgeleierwafers, wat binne een tot twee maande onderneem word. Indien enige defekte vroeg in die proses voorkom, maak al die daaropvolgende verwerking nie sin nie.
Die opsporing van defekte en die spesifisering van hul liggings (posisiekoördinering) is die primêre rol van inspeksietoerusting. Masjienvisielense vang verkeerde of slegte onderdele op voordat hulle in groter samestellings ingebou word. Hoe gouer defekte items opgespoor en uit 'n produksieproses verwyder kan word, hoe minder afval in die proses, wat die opbrengs direk verbeter. In vergelyking met handmatige metodes van monitering en inspeksie, is outomatiese masjienvisiestelsels met 'n hoë kwaliteit optiese lens vinniger, werk onvermoeid en genereer meer konsekwente resultate.